| 产品参数 |
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| 品牌 | 远方 |
| 名称 | 周波跌落发生器 |
| 工作电源 | AC220V |
| 数量 | 1套 |
| 操作温度 | 35℃ |
| 应用产品 | 电脑及周边 |
| 封装 | 台式整机 |
| 批号 | 47887173 |
| 标准 | 61000-4 |
| 输入电流 | 交流 |
| 相位 | 1Phase |
| 操作方式 | 按键 |
| 可售卖地 | 北京;上海;江苏;浙江;湖北;湖南;广东;重庆;四川 |
| 用途 | EMC评估 |
| 型号 | SDOW61018TB | |
信号端口快速脉冲抗扰度测试服务设备产品EMC开放性实验室
博达电磁兼容性实验室硬件包括:
一套传导发射(Conducted Emission)测试系统
一套抗扰度测试实验室,包括:
静电放电发生器 ESD(Electrostatic Discharge Generator)
脉冲群发生器 EFT(Fast Transient Burst Simulator)
雷击浪涌发生器 Surge(Lightning Surge Generator)
(电源)
雷击浪涌发生器 Surge(Lightning Surge Generator)
(信号)
射频场感应的传导骚扰抗扰度测试系统CS
工频磁场抗扰度测试系统PFMF
周波跌落发生器(Cycle Sag Simulator)(交流)
周波跌落发生器(Cycle Sag Simulator)(直流)
阻尼震荡发生器(Damped Oscillatory We Gnenrator)
服务项目
参考标准
电磁干扰
ElectromagneticDisturbance
传导发射ConductedEmission
(频率范围FrequencyRange:0.15-30MHz)
EN55022/CISPR22EN55032/CISPR32GB/T9254
电磁敏感性
ElectromagneticSusceptibility
静电放电抗扰度Electrostaticdischargeimmunity
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-2GB/T17626.2
电快速瞬变脉冲群抗扰度Electricalfasttransient/burstimmunity
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-4GB/T17626.4
浪涌冲击抗扰度Surgeimmunity
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-5GB/T17626.5
浪涌冲击抗扰度Surgeimmunity
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-5GB/T17626.5
射频场感应的传导骚扰抗扰度Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-6GB/T17626.6
工频磁场抗扰度Powerfrequencymagneticfieldimmunity
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-8GB/T17626.8
交流电源暂降、暂时中断抗扰度ACVoltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariations
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-11GB/T17626.11
阻尼振荡波抗扰度OscillatoryWes
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-18GB/T17626.18
直流电源暂降、暂时中断抗扰度DCVoltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariations
EN55024/CISPR24EN55035/CISPR35IEC/EN61000-4-29GB/T17626.29









EFT测试实验室电磁兼容实验室DDR3测试
当采用钳注入法时,辅助设备(AE)的配置应该尽可能的按6.2的配置呈现共模阻抗。
用于钳注入法的每种辅助设备应尽可能的代表运行的安装条件:
用于钳注入法的每种辅助设备,应放置在参考接地平面上10cm高的绝缘支架上
连接到辅助设备的全部线缆,除了连接到受试设备的那些外,均应配置去耦网络。
所采用的这些网络与辅助设备的距离不大于30cm,辅助设备与去耦网络之间的电缆不能盘起来也不能绕成圈,并应与接地参考平面保持30cm到50cm的高度。
连接AE与注入钳之间的线缆应该尽可能的短(≤ 0.3m),这样可以尽可能的保证高频(>
30 MHz)时测试的可重复性。